А  Б  В  Г  Д  Е  Ё  Ж  З  И  Й  К  Л  М  Н  О  П  Р  С  Т  У  Ф  Х  Ц  Ч  Ш  Щ  Ы  Э  Ю  Я

Во Тан Лонг

Количественный рентгеноспектральный микроанализ полупроводниковых материалов. – Автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук. – Санкт-Петербург, 1995. – 16 с. (С диссертацией можно ознакомиться в библиотеке Санкт-Петербургского государственного электротехнического университета).