1. Прецизионный рентгеноструктурный анализ монокристаллов и поликристаллов.

2. Прецизионные дифракционные эксперименты в широком интервале температур (28–1100 К) и давлений (до 50 ГПа).

3. Определение кристаллографической ориентации образцов.

4. Реализация уникальных методов получения и обработки дифракционных данных, гарантирующих проведение исследования на высшем уровне точности и достоверности:
§ подготовка образцов;
§ калибровка дифрактометров;
§ калибровка температурных приставок;
§ учет поглощения излучения, теплового диффузного рассеяния;
§ одновременных отражений;
§ уточнение моделей атомных структур кристаллов с исключением влияния экспериментальных установок на результаты.

5. Применение методов (3+d)D кристаллографии к решению модулированных структур.

6. Разработка принципов молекулярного дизайна высокотемпературных мономолекулярных магнитов; создание необходимых теоретических моделей и вычислительных методов.