logo

Программа

 

 

Секции:
1. Новые методы просвечивающей/растровой электронной микроскопии, электронной дифракции и микроанализа. Hовые приборы, элементы электронной оптики, детекторы и обработка изображений.
2. Крио-ЭМ и применение электронной, конфокальной сканирующей микроскопии в биологии и медицине.
3. Электронная микроскопия, электронная дифракция и микроанализ в исследовании новых материалов.
4. Растровая электронная и ионная микроскопия. In-situ исследования в РЭМ.
5. Методы электронной микроскопии и микроанализа в исследовании предметов культурного наследия.
6. Сканирующая зондовая микроскопия.
7. Исследование сверхбыстрых процессов, фемтосекундная микроскопия, динамическая электронная кристаллография.
8. Электронная и ионная литография. Микроскопия в современных технологиях.
9. Электронная микроскопия в химии, геологии и метеоритоведении.
10. Другие применения электронной микроскопии и комплементарных методов.

 

Научная программа стендовых докладов (скачать *.pdf)

 

 

28 августа 2018 года

      09.00  Открытие конференции

      09.00-09.10   Авилов А.С.        Вступительное слово
      09.10-09.20   Рощупкин Д.В.    Приветственное слово
      09.20-09.25   Васильев А.Л.     Памяти Н.А. Киселева

                           Приглашенные доклады

      09.30-10.00   Чувилин А.Л. «Кинетика атомных перестроек на примере графена»
      10.00-10.30   Эйндоу М. "Applications of electron microscopy for metal additive manufacturing"
      10.30-11.00   Меши Л. "Study of the order of the domains in the matrix of the Al-Co-Cr-Fe-Ni high entropy alloy"
      11.00-11.30   Боргардт Н.И. «Просвечивающая электронная микроскопия сомкнутых нанопроволок GaN»
      11.30-12.00   Васильев А.Л. «Определение кристаллической структуры новых фаз методами высокоразрешающей ЭМ»

      12.00-12.20   Кофе-брейк

                           Новые методы просвечивающей/растровой электронной микроскопии, электронной дифракции и микроанализа. Новые приборы, элементы электронной оптики, детекторы и обработка изображений

      12.20-12.35   Модин Е.Б. «Трехмерная электронная микроскопия в исследовании наноматериалов»
      12.35-12.55   Гусев С.А. «Лоренцева микроскопия наноразмерных цилиндрических магнитных доменов»
      12.55-13.15   Михеев Н.Н. «Двухпотоковая модель транспорта пучка электронов РЭМ в веществе при многократном рассеянии: применение в задачах рентгеноспектрального микроанализа»
      13.15-13.35   Чуховский Ф.Н. «К решению обратной задачи электронно-микроскопической томографии. Итеративные алгоритмы на примере кристалла с точечным дефектом кулоновского типа»
      13.35-14.05   Cообщение представителей фирмы Thermo Fisher Scientific

      14.05-15.00   Обед

                           Приглашенные доклады

      15.00-15.30   Дударев С.Л. «Моделирование и электронно-микроскопическое наблюдение нано-дефектов в материалах для термоядерных реакторов»
      15.30-16.00   Авилов А.С. «Структурные исследования металлосодержащих наночастиц методами электронной кристаллографии»

                           Электронная микроскопия, электронная дифракция и микроанализ в исследовании новых материалов

      16.00-16.20   Жигалина О.М. «Электронная микроскопия границ раздела тонких пленок ЦТС/ТБС»
      16.20-16.40   Кукин В.Н. «Выявление мезопор в цеолите методами электронной микроскопии и фокусированного ионного пучка»
      16.40-17.10   Cообщение представителей фирмы Gatan «Advantages of Direct Detection and Electron Counting for Electron Energy Loss Spectroscopy Data Acquisition» Paolo Longo

      17.10-17.30   Кофе-брейк

                           Другие применения электронной микроскопии и комплементарных методов

      17.30-17.45   Зарубин С.С. «Анализ тонких сегнетоэлектрических плёнок на основе Hf0,5Zr0,5O2 методами просвечивающей электронной микроскопии»
      17.45-18.00   Богачев А.А. «Влияние высокоэнергетичного тяжелоионного облучения на наномасштабное состояние перспективных титановых сплавов и дисперсно-упрочненной оксидами стали»
      18.00-18.15   Овчаров А.В. «Микроструктурный анализ сверхпроводящей ленты на основе YBCO после радиационного облучения ионами 131Xe с различными энергиями»
      18.15-18.25   Cообщение представителей фирмы Tescan «Возможности сканирующих электронных микроскопов TESCAN при исследовании конструкционных и функциональных материалов», Миловзоров Н.Г. 
      18.25-18.35   Cообщение представителей фирмы Melytec «Современные настольные сканирующие электронные микроскопы компании "Phenom-World BV" (Нидерланды) – системы получения изображений и анализа»

 

      10.00-20.00  Стендовая сессия:
                           Секция 2. Крио-ЭМ и применение электронной, конфокальной сканирующей микроскопии в биологии и медицине.
                           Секция 4. Растровая электронная и ионная микроскопия. In-situ исследования в РЭМ.

 

29 августа 2018 года

                           Приглашенные доклады

      09.00-09.30   Маркс Л.Д. "Profile Imaging: 35 years old and still tracking"
      09.30-10.00   Ищенко А.А. «Ultrafast electron diffraction and electron microscopy: Present status and future prospects»
      10.00-10.30   Миллер Р. Дж. Двейн "Mapping Atomic Motions with Ultrabright Electrons: Realization of the Chemists’ Gedanken Experiment"
      10.30-10.50   Рябов Е.А. «Сверхбыстрая электронная дифракция и динамическая просвечивающая электронная микроскопия в Институте спектроскопии РАН»
      10.50-11.20   Николопулос С. "State of the art tem precession diffraction techniques: From 3d diffraction tomography to orientation imaging"
      11.20-11.50   Cообщение представителей фирмы Thermo Fisher Scientific

      11.50-12.10   Кофе-брейк

                                 Электронная микроскопия в химии, геологии и метеоритоведении

      12.10-12.30   Мохов А.В. «Возможности электронной микроскопии в изучении лунного грунта»
      12.30-12.45   Горностаева Т.А. «Диагностика и изучение природных высокотемпературных стёкол методами электронной микроскопии»
      12.45-13.00   Округин В.М. «О роли современных методов электронной и микрозондовой микроскопии в изучении техногенных отложений Мутновского геотермального комплекса (Южная Камчатка)»

                            Приглашенный доклад

      13.00-13.30   Якимов Е.Б. «Исследование дефектов упаковки в 4H-SiC методами РЭМ»

                           Растровая электронная и ионная микроскопия. In-situ исследования в РЭМ

      13.30-13.45   Вергелес П.С. «Исследование влияния облучения электронным пучком в РЭМ на дислокации, введенные при индентировании GaN»
      13.45-14.00   Загорский Д.Л. «Металлические нано-проволоки различных типов: электронная микроскопия с элементным анализом»
      14.00-14.15   Вербицкий В.Н. «Исследование морфологии поверхности и эффективности гетеропереходных фотоэлектрических преобразователей на основе квазимонокристаллических кремниевых пластин»
      14.15-14.30   Cообщение представителей фирмы Tescan «Травление сфокусированным и расфокусированным ионным пучком как пробоподготовка для микротекстурного анализа EBSD», Лукашова М.В.

      14.30-15.30   Обед

                           Крио-ЭМ и применение электронной, конфокальной сканирующей микроскопии в биологии и медицине

      15.30-15.45   Жуховицкий В.Г. «Ультраструктура жгутиков Helicobacter pylori»
      15.45-16.00   Шеваль Е.В. «Особенности компактизации хроматина в хромосомах растений с гигантским геномом»
      16.00-16.15   Лисицын Ф.В. «Визуализация комплекса аденовирусной ДНК (ОА7) с концевыми белками»
      16.15-16.30   Плехова Н.Г. «Структурные преобразования мезенхимальных стволовых клеток при контакте с биоактивными покрытиями на имплантатах»
      16.30-16.45   Снигиревская Е.С. «Ультраструктура внутриклеточных органелл при апоптозе»
      16.45-17.00   Селиванова О.М. «Новый механизм формирования амилоидных фибрилл»
      17.00-17.10   Cообщение представителей фирмы Sernia «Аналитическое и технологическое оборудование», Коренев П.А.

      17.10-17.30   Кофе-брейк

      17.30-17.45   Асташонок А.Н. «Маркеры нарушения функции нервной системы у пациентов с болезнью Альцгеймера и прионными заболеваниями: ультраструктурные и наноскопические исследования»
      17.45-18.00   Попенко В.И. «Трехмерная организация ядрышкового домена в пространстве соматического ядра инфузории Didinium nasutum и локализация ключевых ядрышковых белков в нём»
      18.00-18.15   Бакеева Л.Е. «Особенности ультраструктуры митохондриального аппарата скелетной мышцы голого землекопа (Heterocephalus glaber)»
      18.15-18.30   Евтюгин В.Г. «Особенности ультраструктуры покровов криобиотической пиявки Ozobranchus jantseanus. (Annelida; Hirudinea; Rhynchobdellida)»      

      19.30-21.30   Фуршет

 

      09.00-19.30  Стендовая сессия:
                           Секция 1. Новые методы просвечивающей/растровой электронной микроскопии, электронной дифракции и микроанализа. Новые приборы, элементы электронной оптики, детекторы и обработка изображений.
                           Секция 5. Методы электронной микроскопии и микроанализа в исследовании предметов культурного наследия.
                           Секция 6. Сканирующая зондовая микроскопия.
                           Секция 8. Электронная и ионная литография. Микроскопия в современных технологиях.
                           Секция 9. Электронная микроскопия в химии, геологии и метеоритоведении.
                           Секция 10. Другие применения электронной микроскопии и комплементарных методов.

 

30 августа 2018 года

      09.00-09.20   Олейников П.Н. «First woven covalent organic framework solved using electron crystallography»
      09.20-09.50   Cообщение представителей фирмы Oxford Instruments «Применение новых ЭДС и EBSD детекторов компании Oxford Instruments в исследованиях наноструктурированных материалов», Козлов В.В.

                           Сканирующая зондовая микроскопия

      09.50-10.15   Соколов Д.В. «Совместное использование методов сканирующей силовой микроскопии для определения электрофизических параметров индивидуальных многостенных углеродных нанотрубок»
      10.15-10.30   Синицына О.В. «Изучение морфологии поверхности жидкокристаллического сополимера при фазовых переходах методом АСМ»
      10.30-10.40   Cообщение представителей фирмы Conetech «Новые возможности атомно-силовой микроскопии от Nanosurf», Шуравин А.А.

                           Электронная и ионная литография. Микроскопия в современных технологиях

      10.40-10.55   Казмирук В.В. «Оптимизация электронно-оптических систем электронно-лучевых литографов и растровых электронных микроскопов»
      10.55-11.10   Петров Ю.В. «Литография сфокусированным ионным пучком с использованием усиленного травления неорганических тонких пленок»

                           Методы электронной микроскопии и микроанализа в исследовании предметов культурного наследия

      11.10-11.25   Созонтов Е.А. «Средневековые письменные источники: комплексные исследования с использованием растровой электронной микроскопии, микроанализа и других комплементарных методов»
      11.25-11.40   Кадикова И.Ф. «Применение электронной микроскопии при исследовании произведений искусства»
      11.40-11.50   Сообщение представителей фирмы Tescan «Наблюдение пор нанометрового размера в диэлектриках средствами сканирующей электронной микроскопии», Сомов П.А.
      11.50-12.00   Сообщение представителей фирмы Tescan «Автоматизированный минералогический анализ многокомпонентных образцов, содержащих составляющие близкого состава. Различение гематита и магнетита», Сорокопудова Ю.В.
      12.00-12.15   Сообщение представителей фирмы Technoinfo «Цифровой анализ пород как комплексный метод изучения керамики и иных образцов культурного наследия», Корнейчик О.Е.

 

      12.15  Закрытие конференции

      12.15-12.30   Авилов А.С.        Завершающее слово. Подведение итогов

      15.30   Экскурсия и фуршет на корабле

 

      09.00-12.30  Стендовая сессия:
                           Секция 3. Электронная микроскопия, электронная дифракция и микроанализ в исследовании новых материалов.