МВИ

Методики выполнения измерений
ЦКП ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН

  1. «ГСИ. Ориентировка крупных кристаллов на рентгеновском дифрактометре. Методика выполнения измерений рентгенодифракционным методом», МВИ-1ПВ
  2. «ГСИ. Линейные и объемные дефекты в кристаллических структурах. Методика выполнения измерений с помощью двухкристального рентгеновского топографического спектрометра», МВИ-2ПВ
  3. «ГСИ. Интегральные структурные параметры наночастиц и кластеров в моно-полидисперсных системах, толщина и период повторяемости в тонких пленках. Методика выполнения измерений с помощью автоматического малоуглового рентгеновского дифрактометра с однокоординатным позиционно-чувствительным детектором «Амур-К»», МВИ-3ПВ
  4. «ГСИ. Ориентация образца, параметры элементарной ячейки и симметрия монокристаллов в области температур 10-800 К. Методика выполнения измерений с помощью четырехкружных рентгеновских дифрактометров Enraf-Nonius и Huber», МВИ-4ПВ
  5. «ГСИ. Фазовый анализ поликристаллов. Методика выполнения измерений с помощью координатного рентгеновского дифрактометра КАРД-6», МВИ-5ПВ
  6. «ГСИ. Высокоразрешающие пространственно-угловые рефлектометрические измерения. Методика выполнения измерений с помощью высокоразрешающего сканирующего рефлектометра», МВИ-6ПВ
  7. «ГСИ. Параметры структуры монокристаллов и сложных многослойных нанокомпозиций. Методика выполнения измерений рентгенодифракционным методом», МВИ-7ПВ
  8. «ГСИ. Гомогенность кристаллических объектов. Методика выполнения измерений с помощью двухкристального рентгеновского дифрактометра», МВИ-8ПВ
  9. «ГСИ. Параметры шероховатости сверхгладких поверхностей. Методика выполнения измерений рентгенодифракционным методом», МВИ-9ПВ
  10. «ГСИ. Нарушенные слои и нанесенные покрытия. Методика выполнения измерений рентгеновским методом», МВИ-10ПВ
  11. «ГСИ. Пространственное распределение атомов в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью многокружного рентгеновского спектрометра АССВ», МВИ-11ПВ
  12. «ГСИ. Линейные размеры объектов в диапазоне 2-100 мкм. Методика выполнения измерений с помощью оптического микроскопа Carl Zeiss E2», МВИ-12ПВ
  13. «ГСИ. Спектральные показатели ослабления конденсированных сред в диапазоне длин волн 0,2-50 мкм. Методика выполнения измерений спектрофотометрическим методом», МВИ-13ПВ
  14. «ГСИ. Объемное и удельное сопротивления высокоомных кристаллических диэлектриков и полупроводников. Методика выполнения измерений с помощью вольтметра-электрометра В7-30», МВИ-14ПВ
  15. «ГСИ. Микротвердость материалов. Методика выполнения измерений микротвердости с помощью микротвердометра ПМТ-3», МВИ-15ПВ
  16. «ГСИ. Метрические параметры поверхности. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Solver P47», МВИ-16ПВ
  17. «ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа EM 430 ST», МВИ-17ПВ
  18. «ГСИ. Линейные размеры элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов. Методика выполнения измерений с помощью растровых электронных микроскопов JSM-840 и BS-340», МВИ-18ПВ
  19. «ГСИ. Структура поверхности кристалла при дифракции электронов на отражение. Методика выполнения измерений электронографическим методом», МВИ-19ПВ
  20. «ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах в диапазоне 0,1-60 нм. Распределение интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронографа ЭМР-102», МВИ-20ПВ
  21. «ГСИ. Параметры шероховатости сверхгладких поверхностей. Методика выполнения измерений рентгено-дифракционным методом», МВИ-27ПВ
  22. «ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах в диапазоне 0,08-60 нм. Распределение интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронографа ЭМР-102 (модернизированного)», МВИ-28ПВ
  23. «ГСИ. Эффективная шероховатость поверхности. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Solver P47», МВИ-29ПВ
  24. «ГСИ. Определение плотности приповерхностных слоев многослойных гетероструктур. Методика выполнения измерений с помощью рентгеновского высокоразрешающего сканирующего рефлектометра ВСР-100 (модернизированного)», МВИ-30ПВ
  25. «ГСИ. Метрические параметры поверхности. Методика выполнения измерений с помощью сканирующей зондовой нанолаборатории «Ntegra Prima»», МВИ-31ПВ
  26. «ГСИ. Ориентация образца, параметры элементарной ячейки и симметрия монокристаллов в области температур 90-490 К. Методика выполнения измерений с помощью четырехкружного ренгеновского дифрактометра Xcalibur S», МВИ-32ПВ
  27. «ГСИ. Пространственное распределение атомов в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью многокружного рентгеновского спектрометра АССВ», МВИ-33ПВ
  28. «ГСИ. Измерение линейных размеров объектов в режиме изображения и межплоскостных расстояний в режиме дифракции. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа Tecnai G2 30 S-TWIN с рентгеновским спектрометром фирмы EDAX», МВИ-34ПВ
  29. «ГСИ. Размеры наночастиц в полидисперсных системах и форма биомакромолекул в растворах. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра Hecus «SAXS System 3»», МВИ-35ПВ
  30. «ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах в диапазоне 0,1-30 нм. Распределение интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронографа ЭМР-110К», МВИ-36ПВ
  31. «ГСИ. Линейные размеры элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов. Методика выполнения измерений с помощью растрового электронного микроскопа JSM-7401F», МВИ-37ПВ
  32. «ГСИ. Использование нескольких компланарных рефлексов для прецизионного определения параметров кристаллической решетки. Методика выполнения измерений с помощью рентгеновского спектрометра ТРС-К», МВИ-40ПВ
  33. «ГСИ. Определение политипов монокристаллов карбида кремния. Методика выполнения измерений с помощью рентгеновского дифрактометра Xcalibur S с координатным детектором», МВИ-41ПВ
  34. «ГСИ. Дифракционный анализ поликристаллов. Методика выполнения измерений с помощью рентгеновского дифрактометра XPert PRO», МВИ-42ПВ
  35. «ГСИ. Пространственное распределение линейного коэффициента поглощения рентгеновского излучения. Методика выполнения измерений методом рентгеновской компьютерной томографии», МВИ-43ПВ
  36. «ГСИ. Эффективная шероховатость поверхности сапфировых подложек. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Ntegra Prima», МВИ-44ПВ
  37. «ГСИ. Латеральные и метрические параметры поверхности диэлектрических кристаллов и пленок. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Solver P47», МВИ-45ПВ
  38. «ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах в диапазоне 0,1-20 нм. Регистрация интенсивностей рефлексов в 3-х мерных электронно-дифракционных картинах в режиме «полого конуса». Методика выполнения измерений с использованием приставки к ПЭМ «Spinning Star»», МВИ-46ПВ
  39. «ГСИ. Ориентация образца, параметры элементарной ячейки и симметрия монокристаллов в области температур 295-1000 К. Методика выполнения измерений на дифрактометре Xcalibur S с использованием высокотемпературной приставки FR559», МВИ-47ПВ
  40. «ГСИ. Метрические параметры полимерных микрокапсул в водных суспензиях. Методика выполнения измерений с помощью оптического микроскопа Leica TCS SPE», МВИ-48ПВ
  41. «ГСИ. Линейные размеры элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов, регистрируемые в ионных и электронных пучках. Методика выполнения измерений с помощью микроскопа FIB Quanta 200 3D», МВИ-49ПВ
  42. «ГСИ. Размер частиц в житкой суспензии. Методика выполнения измерений с помощью автоматического анализатора Delsa Nano», МВИ-50ПВ

Методики выполнения измерений, прошедшие государственную регистрацию в ранге МИ (рекомендаций метрологического института):

  1. Рекомендация: «ГСИ. Линейные размеры элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов. Методика выполнения измерений с помощью растрового электронного микроскопа JSM-7401F», МИ 3077-2007
  2. Рекомендация: «ГСИ. Размеры наночастиц в полидисперсных системах и форма биомакромолекул в растворах. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра Hecus «SAXS System 3»», МИ 3078-2007
  3. Рекомендация: «ГСИ. Измерение линейных размеров объектов в режиме изображения и межплоскостных расстояний в режиме дифракции. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа Tecnai G2 30 S-TWIN с рентгеновским спектрометром фирмы EDAX», МИ 3079-2007
  4. Рекомендация: «ГСИ. Параметры шероховатости сверхгладких поверхностей. Методика выполнения измерений рентгеновским методом», МИ 3080-2007
  5. Рекомендация: «ГСИ. Интегральные структурные параметры наночастиц и кластеров в моно-полидисперсных системах, толщина и период повторяемости в тонких пленках. Методика выполнения измерений с помощью автоматического малоуглового рентгеновского дифрактометра с однокоординатным позиционно-чувствительным детектором «Амур-К»», МИ 3143-2008
  6. Рекомендация: «ГСИ. Пространственное распределение линейного коэффициента поглощения рентгеновского излучения. Методика выполнения измерений методом рентгеновской компьютерной томографии», МИ 3142-2008
  7. Рекомендация: «ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах в диапазоне 0,08-20 нм и распределения интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронографа ЭМР-110К», МИ 3141-2008
  8. Рекомендация: «ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа EM-430, МИ 3160-2008
  9. Рекомендация: «ГСИ. Эффективная шероховатость поверхности. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Solver P47, МИ 3161-2008