ЦКП "Структурная диагностика материалов" - Метрологическая деятельность - МВИ

Методики выполнения измерений ЦКП «Структурная диагностика материалов» ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН:

 1. ГСИ. Ориентировка крупных кристаллов на рентгеновском дифрактометре. Методика выполнения измерений рентгенодифракционным методом, МВИ-1ПВ

 2. ГСИ. Линейные и объемные дефекты в кристаллических структурах. Методика выполнения измерений с помощью двухкристального рентгеновского топографического спектрометра, МВИ-2ПВ

 3. ГСИ. Интегральные структурные параметры наночастиц и кластеров в моно-полидисперсных системах, толщина и период повторяемости в тонких пленках. Методика выполнения измерений с помощью автоматического малоуглового рентгеновского дифрактометра с однокоординатным позиционно-чувствительным детектором "Амур-К", МВИ-3ПВ

 4. ГСИ. Ориентация образца, параметры элементарной ячейки и симметрия монокристаллов в области температур 10-800 К. Методика выполнения измерений с помощью четырехкружных рентгеновских дифрактометров Enraf-Nonius и Huber, МВИ 4ПВ

 5. ГСИ. Фазовый анализ поликристаллов. Методика выполнения измерений с помощью координатного рентгеновского дифрактометра КАРД-6, МВИ- 5ПВ

 6. ГСИ. Высокоразрешающие пространственно-угловые рефлектометрические измерения. Методика выполнения измерений с помощью высокоразрешающего сканирующего рефлектометра, МВИ-6ПВ

 7. ГСИ. Параметры структуры монокристаллов и сложных многослойных нанокомпозиций. Методика выполнения измерений рентгенодифракционным методом, МВИ-7ПВ

 8. ГСИ. Гомогенность кристаллических объектов. Методика выполнения измерений с помощью двухкристального рентгеновского дифрактометра, МВИ-8ПВ

 9. ГСИ. Параметры шероховатости сверхгладких поверхностей. Методика выполнения измерений рентгенодифракционным методом, МВИ-9ПВ

 10. ГСИ. Нарушенные слои и нанесенные покрытия. Методика выполнения измерений рентгеновским методом, МВИ-10ПВ

 11. ГСИ. Пространственное распределение атомов в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью многокружного рентгеновского спектрометра АССВ, МВИ-11ПВ

 12. ГСИ. Линейные размеры объектов в диапазоне 2-100 мкм. Методика выполнения измерений с помощью оптического микроскопа Carl Zeiss E2, МВИ-12ПВ

 13. ГСИ. Спектральные показатели ослабления конденсированных сред в диапазоне длин волн 0,2-50 мкм. Методика выполнения измерений спектрофотометрическим методом, МВИ-13ПВ

 14. ГСИ. Объемное и удельное сопротивления высокоомных кристаллических диэлектриков и полупроводников. Методика выполнения измерений с помощью вольтметра-электрометра В7-30, МВИ-14ПВ

 15. ГСИ. Микротвердость материалов. Методика выполнения измерений микротвердости с помощью микротвердометра ПМТ-3, МВИ-15ПВ

 16. ГСИ. Метрические параметры поверхности. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Solver P47, МВИ-16ПВ

 17. ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа EM 430 ST, МВИ-17ПВ

 18. ГСИ. Линейные размеры элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов. Методика выполнения измерений с помощью растровых электронных микроскопов JSM-840 и BS-340, МВИ-18ПВ

 19. ГСИ. Структура поверхности кристалла при дифракции электронов на отражение. Методика выполнения измерений электронографическим методом, МВИ-19ПВ

 20. ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах в диапазоне 0,1-60 нм. Распределение интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронографа ЭМР-102, МВИ-20ПВ

 21. ГСИ. Параметры шероховатости сверхгладких поверхностей. Методика выполнения измерений рентгено-дифракционным методом, МВИ-27ПВ

 22. ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах в диапазоне 0,08-60 нм. Распределение интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронографа ЭМР-102 (модернизированного), МВИ-28ПВ

 23. ГСИ. Эффективная шероховатость поверхности. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Solver P47, МВИ-29ПВ

 24. ГСИ. Определение плотности приповерхностных слоев многослойных гетероструктур. Методика выполнения измерений с помощью рентгеновского высокоразрешающего сканирующего рефлектометра ВСР-100 (модернизированного), МВИ-30ПВ

 25. ГСИ. Метрические параметры поверхности. Методика выполнения измерений с помощью сканирующей зондовой нанолаборатории "Ntegra Prima", МВИ-31ПВ

 26. ГСИ. Ориентация образца, параметры элементарной ячейки и симметрия монокристаллов в области температур 90-490 К. Методика выполнения измерений с помощью четырехкружного ренгеновского дифрактометра Xcalibur S, МВИ-32ПВ

 27. ГСИ. Пространственное распределение атомов в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью многокружного рентгеновского спектрометра АССВ, МВИ-33ПВ

 28. ГСИ. Измерение линейных размеров объектов в режиме изображения и межплоскостных расстояний в режиме дифракции. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа Tecnai G2 30 S-TWIN с рентгеновским спектрометром фирмы EDAX, МВИ-34ПВ

 29. ГСИ. Размеры наночастиц в полидисперсных системах и форма биомакромолекул в растворах. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра Hecus "SAXS System 3", МВИ-35ПВ

 30. ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах в диапазоне 0,1-30 нм. Распределение интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронографа ЭМР-110К, МВИ-36ПВ

 31. ГСИ. Линейные размеры элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов. Методика выполнения измерений с помощью растрового электронного микроскопа JSM-7401F, МВИ-37ПВ

 32. ГСИ. Использование нескольких компланарных рефлексов для прецизионного определения параметров кристаллической решетки. Методика выполнения измерений с помощью рентгеновского спектрометра ТРС-К, МВИ-40ПВ

 33. ГСИ. Определение политипов монокристаллов карбида кремния. Методика выполнения измерений с помощью рентгеновского дифрактометра Xcalibur S с координатным детектором, МВИ-41ПВ

 34. ГСИ. Дифракционный анализ поликристаллов. Методика выполнения измерений с помощью рентгеновского дифрактометра XPert PRO, МВИ-42ПВ

 35. ГСИ. Пространственное распределение линейного коэффициента поглощения рентгеновского излучения. Методика выполнения измерений методом рентгеновской компьютерной томографии, МВИ-43ПВ

 36. ГСИ. Эффективная шероховатость поверхности сапфировых подложек. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Ntegra Prima, МВИ-44ПВ

 37. ГСИ. Латеральные и метрические параметры поверхности диэлектрических кристаллов и пленок. Методика выполнения измерений с помощью сканирующего зондового микроскопа Solver P47, МВИ-45ПВ

 38. ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах в диапазоне 0,1-20 нм. Регистрация интенсивностей рефлексов в 3-х мерных электронно-дифракционных картинах в режиме "полого конуса". Методика выполнения измерений с использованием приставки к ПЭМ "Spinning Star", МВИ-46ПВ

 39. ГСИ. Ориентация образца, параметры элементарной ячейки и симметрия монокристаллов в области температур 295-1000 К. Методика выполнения измерений на дифрактометре Xcalibur S с использованием высокотемпературной приставки FR559, МВИ-47ПВ

 40. ГСИ. Метрические параметры полимерных микрокапсул в водных суспензиях. Методика выполнения измерений с помощью оптического микроскопа Leica TCS SPE, МВИ-48ПВ

 41. ГСИ. Линейные размеры элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов, регистрируемые в ионных и электронных пучках. Методика выполнения измерений с помощью микроскопа FIB Quanta 200 3D, МВИ-49ПВ

 42. ГСИ. Размер частиц в житкой суспензии. Методика выполнения измерений с помощью автоматического анализатора Delsa Nano, МВИ-50ПВ